Tipo de Patente: | PATENTE DE INVENCIÓN, PROPIEDAD INDUSTRIAL |
Número de Publicación: | ES2367641 |
Fecha de Patente: | 09/10/2012 |
Número de Patente: | P201030586 |
Fecha de Solicitud: | 22/04/2010 |
Número de Solicitud: | 201030586 |
Fecha de Concesión: | 27/09/2012 |
Resumen: | SE DESCRIBE UNA LENTE ACÚSTICA TRIDIMENSIONAL CON SIMETRÍA DE REVOLUCIÓN PARA FOCALIZAR, COLIMAR O DISPERSAR HACES SONOROS. LAS LENTES ESTÁN FORMADAS POR ANILLOS CONCÉNTRICOS DE UN MATERIAL CON PROPIEDADES ACÚSTICAS DIFERENTES DEL LAS DEL MEDIO EN QUE SE HALLAN INMERSOS Y POR TANTO ACTUANDO COMO DISPERSORES DEL SONIDO. |
Ámbito: | NACIONAL |
Tipo de Patente: | MODELO DE UTILIDAD, PROPIEDAD INDUSTRIAL |
Fecha de Solicitud: | 22/04/2010 |
Tipo de Patente: | MODELO DE UTILIDAD, PROPIEDAD INDUSTRIAL |
Fecha de Solicitud: | 06/03/2006 |
Sitio web: | http://www.hremresearch.com |
Resumen: | T_RESUMEN: EN 2007, PEDRO L. GALINDO, RESPONSABLE DEL GRUPO, CONCIBE E IMPLEMENTA UN SOFTWARE PARA LA DETERMINACIÓN DE DEFORMACIONES ESTRUCTURALES EN IMÁGENES DE MICROSCOPÍA ELECTRÓNICA DE ALTA RESOLUCIÓN (HREM) EN ESTRUCTURAS CRISTALINAS DENOMINADO PEAK PAIRS (REGISTRO DE PROGRAMA DE ORDENADOR: CA-00087-2008). EL PROGRAMA PERMITE LA DETERMINACIÓN DE LA DISTORSIÓN EN IMÁGENES CON VARIAS COMPONENTES PERIÓDICAS QUE PUEDAN PRESENTAR UNA DISTORSIÓN, DEBIDO A DIFERENTES CAUSAS. EL SOFTWARE SE HA DESARROLLADO PARA SU USO EN IMÁGENES DE MICROSCOPÍA ELECTRÓNICA DE ALTA RESOLUCIÓN. A RAÍZ DE LA PUBLICACIÓN EN LA REVISTA ULTRAMICROSCOPY DE SUS FUNDAMENTOS Y APLICACIONES, LA EMPRESA HREM RESEARCH (JAPÓN), LÍDER MUNDIAL EN SOFTWARE APLICADO A LA MICROSCOPÍA HREM SE INTERESA POR EL PRODUCTO, Y SE ACUERDA UNA CESIÓN TEMPORAL DE DERECHOS PARA SU DISTRIBUCIÓN. EL SOFTWARE SE HA VENDIDO EN ESTE TIEMPO A LAS SIGUIENTES UNIVERSIDADES, CENTROS DE INVESTIGACIÓN Y EMPRESAS DE ALTA REPUTACIÓN DE 9 PAÍSES (EEUU, ALEMANIA, AUSTRIA, COREA DEL SUR, ITALIA, CANADÁ, JAPÓN, BRASIL Y ESPAÑA): * AIR FORCE RESEARCH LABORATORY, USA * SANDIA NATIONAL LABORATORY, USA * SAMSUNG, KOREA * MAX-PLANCK-INST FUR MIKROSTRUKTURPHYSIK, ALEMANIA * INST DE RECHERCHE D'HYDRO-QUEBEC, CANADA * TU WIEN, AUSTRIA * TOHOKU UNIVERSITY, JAPAN * KOREAN BASIC SCIENCE INSTITUTE(KBSI), KOREA * UNIV. DUISBURG-ESSEN, ALEMANIA * FONDAZIONE ISTITUTO ITALIANO DI TECNOLOGIA, ITALIA * UNIVERSIDAD COMPLUTENSE DE MADRID, ESPAÑA * PHILLIPS-UNIVERSITAT MARBURG, ALEMANIA * BRAZILIAN SYNCHROTRON LIGHT SOURCE, BRASIL * INST. DE CIENCIA DE MAT. DE BARCELONA, ESPAÑA * POHANG UNIV OF SCIENCE AND TECHNOLOGY, KOREA |
Observaciones: | POR SER SOFTWARE, NO ES UNA PATENTE OFICIAL. |
Tipo de Patente: | DERECHOS DE AUTOR |
Número de Patente: | 201999901427487 |
Fecha de Solicitud: | 19/03/2019 |
Número de Solicitud: | CA-91-19 |
Resumen: | SOFTWARE DE MEJORA DE CALIDAD Y RESOLUCIÓN DE IMÁGENES DE MICROSCOPÍA ELECTRÓNICA |
Ámbito: | NACIONAL |
Tipo de Patente: | DERECHOS DE AUTOR |
Número de Patente: | 04 / 2020 / 2086 |
Fecha de Solicitud: | 12/11/2019 |
Número de Solicitud: | CA-00378-2019 |
Fecha de Concesión: | 12/11/2019 |
Resumen: | PROGRAMA DE ORDENADOR PARA REALIZAR LAS CONVERSIONES DE OFICIOS A CÓDIGOS COH |
Tipo de Patente: | MODELO DE UTILIDAD, PROPIEDAD INDUSTRIAL |
Número de Patente: | 201299900246551 |
Fecha de Solicitud: | 06/02/2012 |
Número de Solicitud: | CA-47-12 |
Licencia de Explotación: | ACUERDO DE EXPLOTACIÓN CON LA EMPRESA JAPONESA HREM RESEARCH |
Resumen: | ESTE SOFTWARE PERMITE HACER UN ANÁLISIS COMPOSICIONAL DE UNA IMAGEN DE PROCEDENTE DE MICROSCOPIO ELECTRÓNICO EN MODO HAADF. SE BASA LA DETERMINACIÓN DEL FACTOR R A PARTIR DE LAS INTENSIDADES INTEGRADAS SOBRE LOS PICOS DE LA IMAGEN. |
Tipo de Patente: | MODELO DE UTILIDAD, PROPIEDAD INDUSTRIAL |
Número de Patente: | 201299900246492 |
Fecha de Solicitud: | 06/02/2012 |
Número de Solicitud: | CA-46-12 |
Resumen: | SOFTWARE QUE PERMITE LOCALIZAR LOS MÁXIMOS EN UNA IMAGEN HAADF RUIDOSA |